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微控制器和存储器测试是集成电路中的难点和重点，AT89C2051则集成了MC-51TM处理器和2Kbyte可编程Flash存储器两大类电路。研究该电路的测试方法具有很高的理论和实践意义。以AT89C2051为例，本文系统地介绍了编写这类电路测试程序和测试图形的理论和方法，并基于国产ATE完成了测试程序和测试图形的开发。