Effect of SiH4/NH3 ratio on the amorphous Si:H switch TFT properties in 4 Mask process of G8.5

来源 :中国真空学会2016学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:kukuhenku
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  Higher Ion and lower Ioff are eagerly required by gate on array(GOA)technology to guarantee its function.Different SiH4/NH3 ratio in plasma enhanced silicon nitride deposition over G8.5 dummy glass is investigated for optimized uniformity and then manufactured in the improved 55 inch 4-Mask process for LCD TV display to decrease the side effect of the O2 ashing process.The average TFT properties in 13 point of 55 inch is provided.The electrical properties are compared and analyzed.
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