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本文介绍了YHFT-DX测试芯片的模拟验证中的片上测试模块的设计方法，本文以YHFT-DX测试芯片为例来阐述如何实现片上测试模块的设计这一方法，该方法通过将指令和数据加载到L1P和L1D中，初始化Tag存储器，将存储器中的数据导出至片外，从而实现对一级指令Cache和一级数据Cache的访问。本文还设计了片外逻辑，实现了片外激励的自动加栽，以及程序运行结束后自动导出到片外，并与标准的运行结果作比较，从而判断验证是否成功。