基于CCD的三维表面粗糙度测量系统研究

• 作 者: 滕家绪[1]胡仲翔[1]朱磊[2]马雪红[3]时小军[1]
• 机 构: 装甲兵工程学院 再制造技术国家重点实验室,北京,100072
• 出 处: 2008年全国博士生学术会议(光学测试新理论、新技术)
• 发表日期: 2008年期

提出了基于数字图像处理技术的测量零件表面粗糙度的三维(3-D)测量方法,建立了表面粗糙度三维评定系统硬件体系与软件结构。对从数码相机所采集的图像进行了中值滤波、灰度平衡、直方图变换增强等处理,并结合平铣加工的不同粗糙度等级试验样块,对其参数m、σ、S(q)、S(ku)和R(s)相关性进行了讨论。试验表明：平铣加工样块的三维参数m、σ、S(q)与R(s)相关性较好,而参数S(ku)与R(s)无明显相关性。