论文部分内容阅读
通过合成β-环糊精树脂，优化该树脂对样品中痕量金的富集条件，并将其制备成薄样的方法，实现了X射线荧光光谱法对样品中痕量金的测定。方法相对标准偏差2.2％(n=6)，线性范围0～800ng mL-1。该方法制样过程简单，成本低，耗时短，基体效应小，对应用X射线荧光光谱仪进行样品中痕量贵金属的测定具有重要意义。