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本文对两种不同的电制冷能谱(SDD)在不同计数率下的谱峰稳定性和对定量分析结果的准确性进行了研究,结果表明集成了场效应管(FET)的SDD存在明显的谱峰漂移,定量分析的结果的变化范围也远远超出了能谱分析误差的国际标准.而FET与SDD独立的能谱系统没有探测到谱峰漂移,定量分析结果的变化范围在能谱分析误差的国际标准规定以内.在使用集成了FET的SDD能谱系统时,要尽量在较低的计数率下工作才能获得较好的定量数据.