基于f–θ透镜系统的扫描轮廓检测

来源 :第五届全国光子学大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:alexiss
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基于 f-θ透镜系统的扫描测量,是由位相板产生的衍射条纹作为测量基准,测量 FT透镜(傅立叶变换透镜)后焦面上测量光斑的位移变化,通过角度-位移的转换机理,可以实现大尺寸高精密非球面光学零件轮廓的检测。本文介绍了扫描轮廓检测的原理、组成、系统参数的选择及测试的结果。表明这种基于 f-θ透镜系统的扫描轮廓检测系统在量程 1200mm 内,测量分辨率优于 0.1μrad,扫描静态稳定性小于 0.5μrad,测量精度优于 2.0μrad。
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