Co<,x>Cu<,1-x>颗粒膜的磁光克尔效应

• 作 者: 杨渭 蒋正生
• 机 构: 大学物理系(东营),南京大学固体微结构国家重点实验室
• 出 处: 第三届中国功能材料及其应用学术会议
• 发表日期: 1998年期
• 关键词: 颗粒膜 磁光极克尔效应 离子束共溅射技术 颗粒的浓度 测量 薄膜厚度 波长范围 微结构 外磁场 室温下 克尔角 直流 显示 人员 膜面 垂直

采用直流离子束共溅射技术，制备了一系列Co<,x>Cu<,1-x>颗粒膜（6vol.℅≤x≤54vol．℅），薄膜厚度约为450nm。在室温下，用极克尔磁光仪测量Co-Cu颗粒膜的极克尔效应，测量的波长范围从400到800nm。当外磁场大小为10kOe并且方向垂直于膜面时，得到最大的克尔角θ<,k>为0.26°。研究人员的结果显示在颗粒膜磁光极克尔效应中，钴颗粒的浓度和微结构起重要作用。