FAN算法应用于瞬态电流测试产生的可行性研究

来源 :第二届中国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：prettyxu

【摘要】

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基于对FAN算法的分析,本文在不考虑冒险的情况下对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.文中定义了三种不同的D前沿,并将测试产生分为三个部分:1)激活故障,2)使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化,3)减少旁路的影响.实验结果说明,在不考虑冒险的情况下,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的.

【作者】

：

魏小芬邝继顺

【机构】

：

湖南大学计算机与通信学院(长沙)

【出处】

：

第二届中国测试学术会议

【发表日期】

：

2002年12期

【关键词】

：

CMOS电路开路故障测试产生瞬态电流测试 D前沿

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