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带有缺陷纳米线的磁力显微镜测量和计算模拟
带有缺陷纳米线的磁力显微镜测量和计算模拟
来源 :中国物理学会2011年秋季学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:JSAQSZ
【摘 要】
:
研究单根纳米线磁性是研究纳米线阵列磁化状态的基础.磁力显微镜(MFM)由于其具有较高的分辨率和能够观察样品不同区域,而成为研究纳米线磁性的有效工具.现在绝大多文献,都是在假设纳米线是一个完美结构基础上进行研究.
【作 者】
:
何淑婷
白建民
常双全
史慧刚
【机 构】
:
兰州大学磁学与磁性材料教育部重点实验室 兰州 730000
【出 处】
:
中国物理学会2011年秋季学术会议
【发表日期】
:
2011年9期
【关键词】
:
带有缺陷纳米线
磁力显微镜
微磁模拟
模拟MFM 图
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研究单根纳米线磁性是研究纳米线阵列磁化状态的基础.磁力显微镜(MFM)由于其具有较高的分辨率和能够观察样品不同区域,而成为研究纳米线磁性的有效工具.现在绝大多文献,都是在假设纳米线是一个完美结构基础上进行研究.
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