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本文采用电化学阻抗谱（EIS）技术，并结合表面表征技术，如SEM、XRD和FTIR等，研究了薄液膜下Zn合金腐蚀过程，初步探讨了液膜厚度对Zn合金失效过程的影响规律。结果表明Zn腐蚀行为复杂，腐蚀形式主要表现为局部腐蚀，并最终转变成均匀腐蚀，腐蚀产物主要由ZnO、ZnCO3、Zn5(OH)8Cl2·H2O、Zn5(CO3)2(OH)6、 Zn(OH)2及ZnCl2组成。