10位双极模数转换器的电离辐射效应

• 作 者: 陈睿[1]陆妩[2]任迪远[2]郑玉展[1]王义元[1]费武雄[1]李茂顺[1]兰博[1]崔江维[1]
• 机 构: 中国科学院新疆理化技术研究所 乌鲁木齐 830011 新疆电子信息材料与器件重点实验室 乌鲁木齐 830011 中国科学院研究生院 北京 100049
• 出 处: 第十五届全国核电子学与核探测技术学术年会
• 发表日期: 2010年期

对10位双极模数转换器(ADC)在不同偏压和不同剂量率条件下的电离辐射效应及退火效应进行了研究。结果显示：模数转换器对偏置条件和辐照剂鼙率都很敏感。高剂量率辐照时，电路功能正常，各功能参数变化较小;而低剂量率辐照时，各参数变化显著，超出器件允许的范围，器件功能失效，表现出明显的低剂量率辐射损伤增强效应(ELDRS)。低剂量率零偏辐照时，ADC各参数变化更加严重。最后，结合边缘电场效应和空间电荷模型对这种不同偏置和剂量率条件下的损伤机理进行了初步的探讨。