高速数字电路中同步开关输出噪声的解决方案

• 作 者: 蒋见花 霍津哲 周玉梅 刘海南
• 机 构: 中科院微电子研究所,专用集成电路与系统研究室,北京,100029
• 出 处: 第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会
• 发表日期: 2005年期
• 关键词: 数字电路 同步开关输出 输出噪声 仿真方法 电路物理设计 协同验证 快速建模 解决方案 结果验证 规模集成 电路设计 运用 原理 芯片 电源 测试

本文分析了大规模集成电路物理设计中出现的同步开关输出(SSO)噪声原理,并给出了一种基于spice的快速建模、协同验证的仿真方法.运用这种方法,即使是IO数目众多的电路设计也可以快速的得到解决方案,确定最少的能满足要求的电源地IO的数目,并且满足防止噪声的要求.芯片投片后的测试结果验证了这一方法的有效性.