【摘 要】
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全文通过常规与非常规化学、电气试验手段，对国产GIS SF6 CT气室中闪络故障前后固体粉末、气体成分及CT气室内的化工材料进行全方位排查性试验，证明，频繁发生的闪络故障为内置式
【出 处】
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2007中国电机工程学会高电压专委会学术年会
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全文通过常规与非常规化学、电气试验手段，对国产GIS SF6 CT气室中闪络故障前后固体粉末、气体成分及CT气室内的化工材料进行全方位排查性试验，证明，频繁发生的闪络故障为内置式CT气室内的丁腈橡胶板，其橡胶中未胶链好的零价态腐蚀性硫与气室内触头等镀银件反应形成硫化银，硫化银在电磁场作用下，在气室内移动并形成导电通道，引起CT气室闪络击穿。GIS SF6 CT气室内化工材料测评与质量监控缺少相应的行业或国家标准，是导致目前国产GIS CT气室杂质含量高，故障率也相对较高的根本原因。
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