胺类萃取剂高效分离Hf(Ⅳ)与W(Ⅵ)的方法研究

• 作 者: 凡金龙 张生栋 丁有钱 卢嘉春 刘杰 张自禄 常永福
• 机 构: 中国原子能科学研究院放射化学研究所,北京 102413 西北核技术研究所,陕西西安 710024
• 出 处: 中国核学会2009年学术年会
• 发表日期: 2009年期
• 关键词: 胺类萃取剂 高效分离 酸浓度 放射性示踪法 胺类萃取体系 无机酸介质 去污因子 环境样品 萃取行为 稀释剂 络合剂 回收率 分析 方法 TOA

针对某些环境样品中182Hf 的分析,以N1923 和TOA 为萃取剂,研究了不同无机酸介质、酸浓度、络合剂浓度、萃取剂浓度、稀释剂类型等因素对Hf(Ⅳ)与W(Ⅵ)萃取行为的影响,建立了胺类萃取体系分离Hf(Ⅳ)与W(Ⅵ)的方法.放射性示踪法测得Hf(Ⅳ)的回收率为94％,对毫克量级W(Ⅵ)的去污因子为4.4×107.