论文部分内容阅读
本文与蒙特卡罗计算程序相结合,对于高纯锗探测效率进行了分析和讨论.计算效率与测量效率在4%以内吻合.在一定探测距离条件下面源与点源的探测效率在1%以内吻合,而且面源的自吸收可以用平行束在材料中的自吸收来计算;当面源靠近探测器时,由于伽玛射线的倾斜入射,这种方法就不适用了,需要用蒙特卡罗方法进行自吸收较正.