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借助热刺激电流（TSC）技术，对高温硫化（HTV）硅橡胶材料在电晕作用下的微观电特性进行了试验研究。结果发现，硅橡胶试样的TSC 曲线随着电晕放电时间的增加逐渐变化，并呈现出一定的规律性：低温区首先出现新的电流峰，其峰值随着电晕时间的增加逐渐增大，当电晕老化到一定程度时，这些电流峰开始向高温区偏移；高温区电流峰所对应的温度则随着电晕老化的进程逐渐升高，且电流峰峰值逐渐增大。结合计算所得的陷阱参数，表明HTV 硅橡胶材料在电晕老化过程中产生了更多的陷阱，并且陷阱能级逐渐加深。本文对其中的原因进行了详细的分析和讨论。