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为探讨标签用非对称缝隙天线的优化设计方法,尝试将基于BP算法的人工神经网络优化理论应用于标签用非对称缝隙天线的设计当中,避免了天线设计中一维优化设计的缺点.将设计的非对称缝隙天线与Philips公司提供的标签测试芯片进行了匹配,结果与基于MOM的IE3D软件仿真结果一致性程度较好.制作了实物天线,用读写器测试读写距离,能满足相应要求.