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室内设计与消费文化
【机 构】
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北京服装学院艺术设计学院
【出 处】
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第三届全国环境艺术设计大展暨论坛
【发表日期】
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2008年6期
其他文献
本文根据CMOS器件单粒子闩锁、单粒子翻转和总剂量的机理和测试方法,以CMOS加固SRAM为对象,研制了SRAM辐射效应测试系统,可在多种辐射源下进行SRAM的单粒子闩锁、单粒子翻转和总剂量的实验.