透明薄膜热辐射性质测定方法的研究

• 作 者: 葛新石 孙孝兰 许勤堂
• 机 构: 中国科学技术大学
• 出 处: 中国工程热物理学会传热传质学术会议
• 发表日期: 1986年期
• 关键词: 透明薄膜 热辐射性质 衰减系数 方法确定 测定 有效透过率 有效反射率 迭代求解 论证性 关系式 四氟 计算 厚度 光谱 波长

介绍了一种测定透明薄膜的衰减系数K[*Vλ*]的方法。这种方法的要点是：测定透明薄膜的有效透过率τ[*vλ*][*＊*]；测定透明薄膜的有效反射率ρ[*vλ*][*＊*]；利用τ[*vλ*][*＊*]和ρ[*vλ*][*＊*]两个关系式进行迭代求解，算出K[*vλ*]。此法主要优点是利用衰减系数K[*λ*]就可以用计算的方法确定任意厚度d的透明薄膜的光谱和全波长的所有热辐射性质。用此法对聚四氟已稀透明薄膜的热辐射性质进行了论证性测定，研究结果表明，这种方法是可行的。（本刊录）