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本工作针对烷烃光催化氧化合成含氧化合物的反应,采用表面改性法制备出负载型复合半导体V<,2>O<,5>-TiO<,2>/SiO<,2>催化剂,利用X射线衍射、比表面测定、激光拉曼光谱、程序升温还原、紫外可见漫反射等技术对固体材料的结构和光响应性能进行了表征,并对V<,2>O<,5>和TiO<,2>两种半导体在V<,2>O<,5>-TiO<,2>/SiO<,2>催化剂表面上的相互修饰作用进行了深入地探讨.