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为了减少SoC芯片的测试数据，本文提出了一种基于伪对称编码的测试数据压缩方法。该方法根据0和1的分布特点，在0游程和1游程的基础上提出对称性游程，采用变长到变长的编码方式对不同类型游程编码，代码字由控制位，前缀和尾部组成。伪对称编码在将每组的容量扩大一倍的同时，扩大编码范围，能有效的压缩芯片测试数据量。理论分析和实验结果表明伪对称编码能取得很好的压缩效果，且能适应多样编码对象，解压结构简单且易实现。