可见/近红外光谱技术在梨水果表面色泽无损检测中的应用

• 作 者: 陈兴苗 欧阳爱国 刘燕德
• 机 构: 江西农业大学工学院,南昌,330045 江西农业大学工学院,南昌,330045;江西蓝天学院,南昌
• 出 处: 2007南昌无损检测国际会议——无损检测技术国际研讨会暨无损检测高等教育发展论坛、电磁检测学术交流会
• 发表日期: 2007年4期
• 关键词: 可见近红外光谱 无损检测 校正方法 梨表面色泽 多元线性回归

应用可见/近红外光谱技术对梨水果表面色泽进行无损检测研究.在350-1 800 nm光谱区间，对梨水果原始吸光度光谱和标准化光谱，采用多元线性回归(MLR)、主成分回归(PCR)和偏最小二乘回归(PLSR)三种数学校正进行了定量分析.原始吸光度光谱应用偏最小二乘回归定标模型对24个未知样品的预测结果是:L*、a*、b*预测均方差分别为1.4241，0.4569和0.9497；相对预测偏差分别为3.7404％，3.3571％和2.5877％.预测结果表明:可见/近红外光谱技术对梨水果表面色泽的无损检测是可行的。