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半导体最终测试调度问题(SFTSP)关系到半导体制造企业的生产效率。本文针对SFTSP的特点，设计了基于排列的编码和解码方式，建立了描述问题解空间分布的概率模型，进而提出了一种紧致分布估计算法(cEDA)。算法通过对概率模型采样产生两个新个体，并基于优势个体更新概率模型的参数。基于测试问题的数值仿真以及与已有算法的比较，验证了所提算法的有效性和高效性。