X射线荧光光谱法测定土壤样品中C、N、S、Cl等31种元素

• 作 者: 徐海 刘琦
• 机 构: 陕西省地质矿产实验研究所
• 出 处: 第五届全国地质与地球化学分析学术报告会
• 发表日期: 2007年期
• 关键词: 射线荧光 光谱法测定 土壤样品 元素 粉末压片法 直接测定 实验方法 目标区域 化探分析 准确度 精密度 检出限 晶体

本法采用粉末压片法直接测定土壤样品中的C、N、S、Cl等31种元素。N的分析采用RX45;C采刚RX61:Na、Mg采用RX25:CI、S、P采用Ge; Si、Al采用PET;其余元素均采用LiF200分析晶体。经过实验方法的检出限、精密度和准确度对绝大多数元素而言,均可满足多目标区域化探分析要求。