平均瞬态电流测试向量产生方法的研究

来源 :第二届中国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：waterlee1999

【摘要】

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本文论述了基于布尔过程的平均瞬态电流测试(I)ATPG方法实现的主要困难,本文应用遗传算法,对CMOS电路固定开路故障做平均瞬态电流测试I测试产生,产生无冒险的测试向量对,给出

【作者】

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尤志强牛小燕闵应骅张大方邝继顺

【机构】

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湖南大学计算机与通信学院(长沙)

【出处】

：

第二届中国测试学术会议

【发表日期】

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2002年10期

【关键词】

：

瞬态电流测试生成 CMOS电路固定开路故障遗传算法

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本文论述了基于布尔过程的平均瞬态电流测试(I<,DDT>)ATPG方法实现的主要困难,本文应用遗传算法,对CMOS电路固定开路故障做平均瞬态电流测试I<,DDT>测试产生,产生无冒险的测试向量对,给出了ISCAS85、ISCAS89部分电路的实验结果.实验结果表明,对于规模较小且逻辑深度较小的电路,用此方法可以取得较好的结果.

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