一维CdSxSe1-x纳米带的合成、表征及其光电性能研究

• 作 者: 彭明发 邵名望 孙旭辉
• 机 构: 苏州大学功能纳米与软物质研究院,苏州,215123
• 出 处: 中国化学会第30届学术年会
• 发表日期: 2016年期
• 关键词: 一维 纳米带 合成 表征 透射电子显微镜 射线粉末衍射仪 可见分光光度计 探测器件

　　利用热蒸发法合成了高质量的单晶硒硫化镉(CdSxSe1-x)纳米带。扫描、透射电子显微镜(SEM、TEM),X射线粉末衍射仪(XRD)和紫外-可见分光光度计(UV-VIS)表征了纳米带的形貌,晶体结构和纳米带的吸收谱。合成的纳米带被用于在硅基底和柔性基底上制备了光探测器件,并研究了器件在不同波长和功率下的光电响应。