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本文采用气雾化制粉法制备了一系列不同固溶浓度的Cu-Cr合金粉体，对样品进行X射线衍射分析，XRD图谱采用纳尔逊外推函数(sin-1θ+θ-1)cos2θ／2进行图解外推，求得合金粉体的点阵参数。实验发现制各Cu-Cr合金在一定成分范围内，固溶度与点阵参数的变化呈良好线性关系，吻合校正后的Vegard定律。测量了实验条件下Cr在Cu中的固溶度范围，分析了固溶度扩展的原因，讨论了固溶度的扩展极限，提出了用XRD测定Cr在Cu中真实固溶度的方法及计算公式。