【摘 要】
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本文运用基于峰值力敲击模式的开尔文探针力显微镜针对有机半导体中的电荷注入及扩散情况进行了研究。运用峰值力敲击模式能够精确控制探针与样品接触力的优点，使探针以一
【机 构】
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苏州大学,功能纳米与软物质研究院,江苏省,苏州市,215123
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本文运用基于峰值力敲击模式的开尔文探针力显微镜针对有机半导体中的电荷注入及扩散情况进行了研究。运用峰值力敲击模式能够精确控制探针与样品接触力的优点，使探针以一定的接触力接触有机半导体表面，同时给样品加偏压并维持一定时间，从而实现电荷的注入。研究发现，注入在有机半导体中的电荷量与偏压大小、偏压持续时间紧密相关；电荷扩散速率与电荷量的大小以及空气湿度密切相关。通过开尔文探针力显微镜测量，发现晶界对电荷扩散具有一定的阻碍作用，电荷扩散后更多的聚集在半导体的晶界处。
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