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该文提出了一种新的电路最优中心设计方法——改进统计搜索法。该方法首先通过灵敏度分析确定敏感元件。然后通过优化迭代，调整敏感元件的标称值。在迭代过程中，利用泰勒级数估值法大大减少Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ法的抽样次数。为了提高估计成品率的精度，利用了对照实验和相关抽样，并用重心算法选择新的标称值。最后得到最大成品率和最优标称值。实例表明：利用该方法可以大大减少电路分析次数，从而节省了计算量和成本，提高了设计速度。（本刊录）