氩和氖辉光放电等离子体中铜元素离子谱线激发机理的比较研究

• 作 者: ZHANGLei[2]KASHIWAKURAShunsuke[2]WAGATSUMAKazuaki[2]
• 机 构: Institute for Materials Research, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan
• 出 处: 2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
• 发表日期: 2012年期

　　为了研究等离子体碰撞引起的Cu Ⅱ谱线的激发机理,本文考察了氩和氖被用作等离子体气体时铜元素离子谱线[Cu Ⅱ]在辉光放电等离子体中的发射特征。结果发现,Cu Ⅱ谱线的发射强度在很大程度上依赖于等离子体气体的种类及其激发能量。由Cu Ⅱ谱线构成的每个特定谱图样式都出现在了氩和氖的等离子体中。特别是,当用氖代替氩时,不同的Cu Ⅱ谱线被选择性激发。例如,归属于3d95s-3d94p转变的Cu Ⅱ谱线只能在氖等离子体上看到；另外,归属于3d94p-3d94s转变的Cu Ⅱ谱线在氩和氖等离子体上的相对强度有显著差别。这些离子谱线的激发机理在每个等离子体中可以认为是不同的：在氩等离子体中,激发主要由氩离子的电荷转移碰撞引起；而在氖等离子体中,处于亚稳态的氖离子的电荷转移碰撞以及氖原子的彭宁碰撞均可填充铜离子的相应激发能级。