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在FDTD计算中，对于厚度小于一个元胞尺度的电尺寸小的色散介质薄层问题，采用将电位移矢量、磁感应强度加权平均的方法，求得薄层所在元胞内采样点处的等效介质参数，通过元胞内电、磁场节点修正的方法模拟薄层的贡献。与解析结果的比较说明，该方法能处理薄层厚度小于和大于半个元胞尺寸的含有电尺寸小的色散介质薄层。