论文部分内容阅读
本篇论文主要是关于可烧结ＳｉＣ粉的化学分析。ＳｉＣ粉中存在的杂质是游离Ｃ、游离Ｓｉ、Ｏ、Ｎ、Ｓ、Ｃｌ、Ｆ、Ｎａ、Ｋ、Ｃａ、Ｍｇ、Ｖ、Ｆｅ、Ｔｉ、Ａｌ、Ｃｒ和Ｎｉ，杂质的来源是：所用的原料引入，加工阶段和加工设备的腐蚀与磨损带入。文章中讨论了样品的制备和分析方法以及杂质的影响，同时论述了化学分析对ＳｉＣ粉质量控制，环境、烧结过程和烧结后材料性能的重要性。